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北海道札幌市北区北１４条西９丁目

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件名：ソース: Ku Peek

42464 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32898. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32898
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.2　contamination多い.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32899. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32899
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32900. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32900
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)同grain.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32901. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32901
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1と同じdiff.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32902. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32902
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32903. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32903
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32904. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32904
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

(備考)ST.1　-22　赤4（40）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32905. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32905
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32906. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32906
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32907. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32907
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32908. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32908
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32909. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32909
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32910. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32910
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.2　-26　赤10（40）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32911. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32911
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.2　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32912. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32912
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.2　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32913. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32913
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.2　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32914. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32914
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32915. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32915
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32916. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32916
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32917. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32917
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32918. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32918
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32919. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32919
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32920. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32920
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32921. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32921
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)コンタミ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32922. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32922
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32923. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32923
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32924. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32924
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32925. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32925
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)新たに研磨.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32926. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32926
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32927. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32927
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32928. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32928
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32929. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32929
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32930. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32930
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32931. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32931
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32932. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32932
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32933. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32933
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32934. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32934
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32935. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32935
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32936. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32936
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32937. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32937
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32938. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32938
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32939. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32939
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32940. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32940
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)奥へ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32941. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32941
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32942. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32942
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32943. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32943
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32944. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 31K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32944
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32945. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32945
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)ボツ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32946. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32946
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32947. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32947
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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