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北海道札幌市北区北１４条西９丁目

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件名：ソース: Ku Peek

42464 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37101. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37101
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37102. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37102
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37103. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37103
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37104. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37104
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37105. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37105
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Bの隣　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37106. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37106
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　β　　-6.5黒6～9（60）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37107. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37107
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37108. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37108
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37109. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37109
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37110. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37110
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37111. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37111
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37112. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37112
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37113. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37113
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)HVEM用　A　α　＋6.5赤3～6（160）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37114. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37114
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37115. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 31K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37115
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37116. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37116
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37117. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37117
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37118. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37118
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37119. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 31K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37119
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37120. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β　　-8赤3～6（140）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37121. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37122. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37123. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37124. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37125. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, BF, 11K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37126. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, BF, 11K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37127. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)他のgrain　C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37128. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37129. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, BF, 11K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37130. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37131. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37131
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　下23（＋）黒5（280）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37132. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37132
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37133. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37133
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37134. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37134
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37135. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37135
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37136. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37136
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37137. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37137
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　下23.5赤2（180）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37138. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37138
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37139. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37139
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37140. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37140
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37141. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37141
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37142. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37142
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β’　下23（＋）赤2（180）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37143. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37143
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37144. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37144
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37145. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37145
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37146. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37146
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37147. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37147
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37148. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37148
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α’　下23.5（＋）黒5（250）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37149. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37149
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37150. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37150
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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