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北海道札幌市北区北１４条西９丁目

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件名：ソース: Ku Peek

42464 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65137. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65137
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65138. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65138
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65139. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65139
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65140. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65140
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65141. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65141
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65142. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65142
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65143. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65143
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65144. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65144
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65145. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65145
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65146. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65146
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65147. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65147
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65148. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65148
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65149. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65149
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65150. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65150
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)map（not　0.0）.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81587. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81587
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α-8　＋-0　A. 日付元記載「1991. 7. 22.」.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81588. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81588
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　A.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81589. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81589
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　B.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81590. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81590
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　C.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81591. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81591
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α　A.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81592. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81592
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α　C.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81593. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81593
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α　A　boundary.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81594. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81594
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α　C　boundary.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81595. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, ED., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81595
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81596. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81596
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　-15黒9-12（240）A.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81597. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81597
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　B.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81598. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81598
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　C.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81599. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81599
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)β　.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81600. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81600
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)β　.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81601. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81601
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)β　A.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81602. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81602
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)β　C.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81603. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81603
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)β　.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81604. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, ED., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81604
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81605. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81605
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α位置.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81606. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81606
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α位置.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81607. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81607
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α位置.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81608. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81608
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α位置.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81609. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81609
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α位置.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81610. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81610
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)loop判定用　↘ｇ　α位置-10,0.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81611. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81611
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↖ｇ　α位置-10,0.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81612. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81612
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↘ｇ　β位置-16黒9-12（150）.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81613. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81613
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↖ｇ　β位置-16黒9-12（150）.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81614. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81614
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81615. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81615
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81616. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81616
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81617. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81617
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81618. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81618
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81619. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81619
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)別grain　細かいループたくさんできている。.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81620. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, DF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81620
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81621. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, DF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81621
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81622. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, DF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81622
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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