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北海道札幌市北区北１４条西９丁目

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件名：ソース: Ku Peek

42464 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85029. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K？., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85029
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K？. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85030. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85030
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85031. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85031
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85032. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85032
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85035. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85035
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α. 日付元記載「7/1」.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85036. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85036
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85037. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85037
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85038. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85038
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85039. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85039
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85040. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85040
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85041. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85041
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85042. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85042
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85043. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85043
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85044. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85044
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85045. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85045
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85046. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85046
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85047. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF？, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85047
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF？. (条件・倍率等)52K.

(備考)ボツ.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85048. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85048
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85049. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85049
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85050. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85050
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85051. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85051
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85052. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85052
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85053. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85053
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85054. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85054
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85055. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85055
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85056. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85056
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85057. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85057
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85058. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85058
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「7/1」.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85059. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85059
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85060. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85060
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85061. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85061
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85062. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85062
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-21.3黒1（220）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85063. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85063
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85064. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85064
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85065. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85065
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85066. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85066
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85067. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85067
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　-13.2赤2（100）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85068. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85068
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85069. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85069
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85070. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85070
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85071. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85071
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　-29.0赤3.5（260）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85072. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85072
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85073. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85073
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85074. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85074
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-25.0赤13（40）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85075. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85075
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85076. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85076
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85077. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85077
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-21.5赤12（40）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85078. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85078
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85079. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85079
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85080. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85080
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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