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北海道札幌市北区北１４条西９丁目

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件名：ソース: Ku Peek

42464 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88189. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88189
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88190. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88190
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88191. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88191
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)C.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88192. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88192
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88193. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88193
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88194. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88194
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88195. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88195
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)D.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88196. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88196
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88197. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88197
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88198. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88198
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88199. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88199
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88200. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88200
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88201. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88201
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88202. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88202
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88203. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88203
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88204. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88204
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88205. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88205
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88206. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88206
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88207. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88207
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88208. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88208
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88209. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88209
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88210. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88210
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88211. Ni-2Si, JMTR　controlled, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88211
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88212. Ni-2Si, JMTR　controlled, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88212
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88213. Ni-2Si, JMTR　controlled, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88213
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88214. Ni-2Si, JMTR　controlled, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88214
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88215. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88215
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88216. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88216
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88217. Ni-2Si, JMTR　controlled, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88217
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)A.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88218. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88218
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88219. Ni-2Si, JMTR　controlled, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88219
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)B.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88220. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88220
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88221. Ni-2Si, JMTR　controlled, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88221
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88222. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88222
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88223. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88223
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88224. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88224
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88225. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88225
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88226. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88226
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88227. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88227
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88228. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88228
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88229. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD, 53K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88229
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)53K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88230. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88230
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88231. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88231
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88232. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88232
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88233. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88233
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88234. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88234
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88235. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88235
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88236. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88236
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88237. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF, 53K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)53K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88238. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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