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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8032. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8032
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8033. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8033
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8034. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8034
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8035. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8035
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8036. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8036
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8037. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8037
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8038. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8038
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8039. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8039
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8040. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8040
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8041. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8041
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8042. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8042
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8043. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8043
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8044. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8044
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8045. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8045
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8046. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8046
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8047. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8047
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8048. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8048
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8049. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8049
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8050. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8050
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8051. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW, ED, 200., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8051
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)200.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8052. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8052
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8053. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8053
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8054. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8054
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8055. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW, ED, 220., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8055
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)220.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8056. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8056
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8057. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8057
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8058. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8058
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8059. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW, ED, 20., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8059
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)20.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8060. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8060
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8061. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8061
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8062. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8062
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8063. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8063
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8064. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8064
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8065. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8065
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8066. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8066
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8067. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8067
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8068. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8068
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8069. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8069
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8070. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8070
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8071. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8071
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8072. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8072
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8073. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8073
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8074. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8074
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

(備考)ｓ小へ.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8075. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8075
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8076. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8076
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8077. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8077
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8078. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8078
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8079. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8079
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8080. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8080
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8081. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8081
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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