メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8082. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8082
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8083. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8083
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8084. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8084
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8085. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8085
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8086. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8086
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8087. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8087
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8088. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8088
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8089. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8089
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)少しずつ動かす.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8090. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8090
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8091. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8091
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8092. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8092
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8093. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8093
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8094. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8094
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8095. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8095
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8096. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8096
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)81より.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8097. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 8K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8097
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

(備考)引張2％.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8098. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 8K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8098
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8099. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8099
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8100. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8100
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8101. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 8K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8101
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8102. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8102
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8103. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8103
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8104. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 8K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8104
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8105. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8105
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)再ケンマの必要あり.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8106. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8106
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8107. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8107
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8108. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8108
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8109. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8109
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8110. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8110
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8111. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8111
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8112. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8112
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8113. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8113
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8114. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8114
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8115. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8115
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8116. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 100., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8116
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)100.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8117. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 52K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8117
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8118. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8118
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8119. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8119
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8120. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8121. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8122. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8123. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8124. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8125. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8126. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8127. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8128. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)ぼつ.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8129. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8130. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8131. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ