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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8132. Ni, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8133. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8133
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8134. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8134
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8135. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8135
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8136. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8136
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8137. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8137
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8138. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8138
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8139. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8139
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8140. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8140
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8141. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8141
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8142. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8142
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8143. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8143
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8144. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8144
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8145. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8145
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8146. Au, RTNS=II, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8146
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8147. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8147
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8148. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8148
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8149. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8149
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8150. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8150
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8151. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8151
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8152. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8152
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8153. Au, RTNS=II, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8153
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8154. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8154
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8155. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8155
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8156. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8156
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8157. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8157
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8158. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8158
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8159. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8159
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8160. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8160
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)隣の視野.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8161. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8161
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8162. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8162
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8163. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8163
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8164. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8164
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8165. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8165
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8166. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8166
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8167. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8167
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8168. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8168
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8169. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)4.5.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8170. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)4.5.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8171. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)4.5.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8172. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8173. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8174. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

(備考)SFTあり.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8175. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8176. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8177. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8177
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8178. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8178
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8179. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8179
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8180. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8181. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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