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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6246. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6246
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6247. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6247
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6248. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6248
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6249. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6249
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6250. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6250
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6251. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6251
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6252. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, ED., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6252
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6253. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6253
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上12　赤2　　.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6254. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6254
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上12　赤2.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6255. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6255
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上12　赤2.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6256. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6256
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)ED.

(備考)上12　赤2.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6257. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6257
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上12　赤2.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6258. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6258
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上12　赤2.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6259. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6259
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

(備考)上12　赤2 JUST.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6260. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6260
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

(備考)上12　赤2 OVER.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6261. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6261
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

(備考)上12　赤2 UNDER.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6262. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, ED, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6262
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6263. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6263
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6264. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6264
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6265. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6265
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6266. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, ED, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6266
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6267. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6267
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6268. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, ED, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6268
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6269. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6269
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6270. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6270
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6271. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6271
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6272. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6272
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6273. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6273
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)-200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6274. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, ED., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6274
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6295. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6295
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　RT　　　　　　　　　EM内焼鈍実験. 日付元記載「1985.5.8」.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6296. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6296
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　RT　.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6297. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6297
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6298. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6298
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6299. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6299
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B RT　　　　　　　Bを連続観察.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6300. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6300
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6301. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6301
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A 100℃　　　　　　8x10-7Torr.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6302. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6302
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A 100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6303. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6303
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B 100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6304. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6304
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C 100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6305. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED, 54cm., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6305
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)54cm.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6306. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6306
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A 150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6307. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6307
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6308. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6308
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6309. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6309
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6310. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6310
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED　.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6311. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6311
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A 200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6312. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6312
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B 200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6313. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6313
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C 200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6314. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6314
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6315. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6315
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A 250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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