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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8549. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8549
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8550. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8550
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8551. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8551
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8552. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8552
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8553. Ni, 木下, RTNS-II, S, ED., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8553
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8554. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, BF, 80K., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8554
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A α. 日付元記載「1985. 7. 9.」.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8555. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8555
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8556. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, ED., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8556
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　 α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8557. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8557
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8558. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8558
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8559. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8559
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)　 α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8560. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8560
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考) 　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8561. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8561
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8562. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8562
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8563. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, ED., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8563
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　 α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8564. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8564
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)　 β.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8565. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8565
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考) β.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8566. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, ED., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8566
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8567. Au, J784松井, RTNS-II, 50℃、20min, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8567
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)50℃、20min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A .

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8568. Au, J784松井, RTNS-II, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8568
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8569. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8569
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8570. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8570
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8571. Au, J784松井, RTNS-II, S, ED., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8571
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8572. Au, J784松井, RTNS-II, 75℃、30min, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8572
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)75℃、30min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A .

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8573. Au, J784松井, RTNS-II, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8573
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8574. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8574
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8575. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8575
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)a＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8576. Au, J784松井, RTNS-II, S, EF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8576
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)EF.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8577. BF, 80K., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8577
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8578. Au, J784松井, RTNS-II, 100℃(1.53mV), S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8578
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)100℃(1.53mV). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8579. Au, J784松井, RTNS-II, 60min, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8579
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8580. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8580
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8581. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8581
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8582. Au, J784松井, RTNS-II, S, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8582
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8583. Au, J784松井, RTNS-II, 150℃(2.3mV), S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8583
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(2.3mV). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8584. Au, J784松井, RTNS-II, 25min, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8584
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)25min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8585. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8585
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8586. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8586
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8587. Au, J784松井, RTNS-II, 200℃(3.15mV), S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8587
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃(3.15mV). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8588. Au, J784松井, RTNS-II, 20min, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8588
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8589. Au, J784松井, RTNS-II, S, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8589
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8590. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8590
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8591. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8591
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8592. Au, J784松井, RTNS-II, 250℃, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8592
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)250℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8593. Au, J784松井, RTNS-II, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8593
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8594. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8594
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8595. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8595
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8596. Au, J784松井, RTNS-II, 300℃(4.9mV), S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8596
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300℃(4.9mV). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8597. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8597
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8598. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8598
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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