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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8699. Ni, A726木下, RTNS-II, M, ED., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8699
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8700. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8700
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8701. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8701
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8702. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8702
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8703. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8703
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

(備考)今迄のarea、contamination or oxidation.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8704. Ni, A726木下, RTNS-II, M, ED., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8704
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8705. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF, 80K., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8705
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A. 日付元記載「1985/11/16」.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8706. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF, 80K., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8706
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8707. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8707
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8708. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8708
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8709. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8709
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8710. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8710
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8711. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8711
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8712. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8712
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8713. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8713
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8714. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, EF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8714
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)EF.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8715. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8715
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8716. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8716
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8717. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8717
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8718. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8718
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8719. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8719
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8720. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8720
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8721. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8721
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8722. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8722
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A. 日付元記載「85/11/16」.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8723. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8723
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8724. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8724
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8725. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8725
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8726. Ni, A677木下, RTNS-II, W, ED., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8726
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8727. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8727
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8728. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8728
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8729. Ni, A677木下, RTNS-II, W, ED., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8729
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8730. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8730
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8731. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8731
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8732. Ni, A677木下, RTNS-II, W, ED., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8732
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8733. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8733
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8734. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8734
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8735. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8735
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D3 annealed and polished again.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8736. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8736
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8737. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8737
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8738. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8738
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8739. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8739
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8740. Ni, A726木下, RTNS-II, ED, 52cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8740
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)52cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8741. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8741
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

(備考)After 300°5min.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8742. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8742
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8743. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8743
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8744. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8744
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8745. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8745
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8746. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8746
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8747. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8747
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8748. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8748
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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