メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8749. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8749
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8750. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8750
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8751. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8751
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8752. DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8752
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8753. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8753
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)After 300℃ 5 min.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8754. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8754
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8755. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8755
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8756. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8756
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8757. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8757
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8758. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8758
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8759. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8759
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8760. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8760
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8761. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8761
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8762. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, ED., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8762
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8763. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8763
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

(備考)Polishied after annealing experiment.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8764. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8764
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

(備考)A726 ?.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8765. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8765
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8766. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8766
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8767. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8767
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8768. Ni, A476, RTNS-II, ED, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8768
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8769. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8769
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8770. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8770
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8771. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8771
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8772. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8772
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8773. Ni, A476, RTNS-II, BF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8773
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8774. Ni, A476, RTNS-II, DE, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8774
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8775. Ni, A476, RTNS-II, DF, 800K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8775
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)800K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8776. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8776
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8777. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8777
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8778. Ni, A476, RTNS-II, ED, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8778
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8779. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8779
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8780. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8780
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8781. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8781
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8782., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8782
範囲と内容

(備考)ボツ.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8783. Ni, A476, RTNS-II, ED, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8783
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8784. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8784
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8785. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8785
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8786. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8786
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8787. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8787
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8788. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8788
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8789. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8789
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8790. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8790
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8791. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8791
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8792. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8792
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8793. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8793
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8794. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8794
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8795. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8795
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8796. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8796
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8797. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8797
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8798. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8798
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ