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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10383. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10383
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10384. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10384
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10385. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10385
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10386. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10386
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10387. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10387
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10388. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, BF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10388
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10389. Fe, 阿部, RTNS-II, RT, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10389
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10390. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10390
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　-5.0,8（260）C3 .

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10391. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10391
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10392. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10392
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10393. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10393
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10394. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10394
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10395. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10395
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10396. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10396
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10397. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10397
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10398. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10398
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10399. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10399
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10400. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10400
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10401. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10401
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10402. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10402
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10403. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10403
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10404. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10404
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10405. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10405
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10406. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10406
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10407. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10407
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A　　-15、6（20）C3　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10408. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10408
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10409. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10409
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10410. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10410
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10411. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10411
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10412. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10412
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10413. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10413
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10414. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10414
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10415. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10415
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10416. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10416
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10417. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10417
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10418. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10418
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　A　Disl.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10419. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10419
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Bulk yoshiie polish.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10420. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10420
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10421. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10421
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10422. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10422
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10423. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10423
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10424. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10424
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10425. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10425
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10426. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10426
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10427. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10427
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10428. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10428
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10429. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10429
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10430. Au, A262, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10430
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Bulk Polished by Yoshiie.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10431. Au, A262, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10431
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10432. Au, A262, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10432
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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