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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6316. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6316
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B 250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6317. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6317
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C 250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6318. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6318
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C 250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6319. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6319
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A 250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6320. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6320
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　α -6.2, 0.0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6321. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6321
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6322. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6322
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6323. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6323
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6324. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6324
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　α　.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6325. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6325
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6326. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6326
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　α　.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6327. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6327
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6328. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6328
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6329. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6329
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6330. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6330
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　β　 ＋3.5, -1(60)黒.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6331. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6331
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6332. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6332
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6333. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6333
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6334. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6334
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6335. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6335
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6336. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6336
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6337. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6337
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6339. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6339
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)日付元記載「1985.5.9」. 実験者元記載「Kojima」.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6340. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6340
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6341. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6341
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)2枚あり.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6342. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6342
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6343. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6343
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6344. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6344
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)5 step over.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6345. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6345
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)5 step under.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6346. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6346
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6347. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6347
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6348. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6348
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6349. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6349
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)3 step over.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6350. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6350
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)3 step under.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6351. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6351
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6352. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6352
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6353. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6353
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6354. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

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資料番号: O-6354
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6355. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6355
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6356. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6356
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6357. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6357
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6358. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6358
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

(備考)　17.2 -4　　殆ど動かず.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6359. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6359
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6360. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6360
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6361. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6361
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6362. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6362
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

(備考)　-5.5　　24　　殆ど動かず.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6363. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6363
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6364. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6364
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6365. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6365
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6366. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6366
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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