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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15016. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15016
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15017. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15017
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15018. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15018
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15019. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15019
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15020. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15020
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15021. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15021
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15022. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15022
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15023. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15023
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15024. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15024
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15025. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15025
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15026. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15026
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15027. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15027
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15028. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15028
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15029. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15029
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15030. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15030
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15031. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15031
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15032. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15032
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15033. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15033
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15034. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15034
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15035. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15035
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15036. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15036
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15037. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15037
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15038. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15038
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15039. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15039
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15040. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15040
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15041. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15041
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15042. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15042
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15043. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15043
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15044. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15044
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15045. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15045
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15046. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15046
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15047. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15047
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15048. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15048
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15049. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15049
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15050. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15050
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15051. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15051
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15052. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

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資料番号: O-15052
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15053. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15053
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15054. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

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資料番号: O-15054
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15055. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15055
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15056. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15056
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15057. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15057
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15058. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15058
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15059. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15059
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15060. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15060
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15061. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15061
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15062. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15062
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15063. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15063
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15064. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15064
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15065. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15065
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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