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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15066. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15066
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15067. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15067
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15068. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15068
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15069. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15069
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α　　＋9.2　1（120）赤.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15070. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15070
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15071. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15071
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15072. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15072
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　　　α.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15073. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15073
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　β　　　＋2.5　7（160）赤.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15074. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15074
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　β.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15075. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15075
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス　β.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15076. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15076
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　　　β.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15077. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15077
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0　.

(備考)　　　β.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15078. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15078
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15079. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15079
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15080. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15080
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15081. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15081
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15082. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15082
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15083. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15083
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15084. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15084
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15085. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15085
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)前回の続き. 日付元記載「1985. 11. 29.」.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15086. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15086
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15087. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15087
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15088. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15088
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15089. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15089
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15090. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15090
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15091. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15091
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15092. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, ED., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15092
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15093. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15093
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15094. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15094
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15095. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15095
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15096. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15096
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15097. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15097
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15098. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15098
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15099. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15099
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15100. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15100
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α　∔2.7、7（100）黒.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15101. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15101
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15102. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15102
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15103. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15103
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15104. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15104
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15105. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15105
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15106. Ni, A32, RTNS-II, 200℃., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15106
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

(備考)ミス.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15107. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15107
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A β ＋8.2、16（140）黒.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15108. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15108
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　 β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15109. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15109
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　 　β.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15110. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15110
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15111. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15111
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　 β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15112. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15112
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　 　β.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15113. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15113
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　　β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15114. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15114
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　 β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15115. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15115
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A just.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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