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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17227. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 80K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17227
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17228. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 80K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17228
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)80K.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17229. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 80K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17229
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)80K.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17230. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 80K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17230
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)80K.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17231. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 80K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17231
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17232. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17232
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17233. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17233
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17234. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17234
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

(備考)TW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17235. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17235
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17236. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17236
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17237. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17237
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17238. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17238
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17239. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17239
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17240. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17240
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17241. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17241
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17242. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17242
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17243. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17243
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17244. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17244
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17245. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17245
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17246. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17246
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17247. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17247
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17248. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17248
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17249. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17249
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17250. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17250
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

(備考)TW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17251. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17251
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17252. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17252
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17253. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17253
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17254. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17254
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17255. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17255
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17256. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17256
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17257. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17257
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17258. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17258
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17259. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17259
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17260. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17260
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17261. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17261
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17262. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17262
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17263. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17263
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17264. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17264
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17265. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17265
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17266. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

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資料番号: O-17266
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17267. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

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資料番号: O-17267
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17268. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17268
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17269. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

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資料番号: O-17269
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17270. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17270
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17271. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17271
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)just.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17272. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17272
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fine大＋3.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17273. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17273
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fine大-3.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17274. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17274
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17275. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17275
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17276. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17276
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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