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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

3966 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19161. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19161
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19162. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19162
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19163. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19163
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19164. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19164
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19165. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19165
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19166. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19166
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19167. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19167
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋4.5、22（220）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19168. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19168
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19169. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19170. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19171. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19172. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19173. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19174. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF, 11K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19175. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, BF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)タケノコ.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19176. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19178. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19178
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A α　-6.0、1.0（160）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19179. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19179
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19180. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19181. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19182. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19183. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19184. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19184
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A β　　-14.5、2（280）黒.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19185. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19185
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19186. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19186
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19187. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19187
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)以後111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B just.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19188. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19188
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B over 2s.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19189. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19189
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B under 2s.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19190. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19190
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)ｓ＞0.

(備考)fresh area -42、20黒.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19191. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19191
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19192. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19192
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)fresh area.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19193. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19193
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19260. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19260
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A. 日付元記載「2. 13」.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19261. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19261
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19262. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19262
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19263. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19263
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19264. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19264
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19265. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19265
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A fringe.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19266. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19266
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D fringe.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19267. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19267
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19268. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19268
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19269. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19269
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19270. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19270
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19271. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19271
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19272. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19272
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19273. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19273
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ボツ.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19274. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19274
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)以上200反射. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19275. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19275
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)以下111反射.

(備考)D just.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19276. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19276
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　fine　大　＋2 over.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19277. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19277
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　fine　大　-2 under.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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