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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33621. Ni, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33621
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33622. Ni, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33622
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33623. Cu3Au, A891, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33623
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (EM/D3)EM. (試料番号)A891. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)EM nomal.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33624. Cu3Au, A891, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33624
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A891. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33625. Cu3Au, A891, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33625
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A891. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)nomal.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33626. Cu3Au, A891, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33626
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A891. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33627. Cu3Au, A891, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33627
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A891. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)nomal.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33628. Cu3Au, A891, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33628
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A891. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33629. Cu3Au, A891, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33629
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A891. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Fringe order.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33630. Cu3Au, A891, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33630
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A891. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33631. Cu-0.05Si, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33631
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33632. Cu-0.05Si, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 21K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33632
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33633. Cu-0.05Si, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 21K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33633
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33634. Cu-0.05Si, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33634
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33635. Cu-0.05Si, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33635
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33636. Cu-0.05Si, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33636
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33637. Cu-0.05Si, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33637
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33638. Cu, RTNS-II, 450℃, SSS, DF　, 21K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33638
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF　. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33639. Cu, RTNS-II, 450℃, SSS, DF　, 21K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33639
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF　. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33640. Cu, RTNS-II, 450℃, SSS, DF　, 21K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33640
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF　. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)void contrastのつもり.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33641. Cu, RTNS-II, 450℃, SSS, DF　, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33641
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF　. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33642. Cu, RTNS-II, 450℃, SSS, DF　, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33642
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF　. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33643. Cu, RTNS-II, 450℃, SSS, DF　, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33643
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF　. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33644. Cu, RTNS-II, 450℃, SSS, DF　, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33644
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF　. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33645. Cu, RTNS-II, 450℃, SSS, DF　, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33645
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF　. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33646. Cu, RTNS-II, 450℃, SSS, DF　, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33646
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF　. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33647. Cu, RTNS-II, 450℃, SSS, DF　, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33647
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF　. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33648. Cu, RTNS-II, 450℃, SSS, DF　, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33648
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF　. (条件・倍率等)52K.

(備考) 記録ノートの本フィルム番号右記載「ED」ヵ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33649. Ni, JOYO, 4, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33649
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33650. Ni, JOYO, 4., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33650
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33651. Ni, JOYO, 4., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33651
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33652. Ni, JOYO, 4., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33652
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33653. Ni, JOYO, 4., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33653
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33654. Ni, JOYO, 4., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33654
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33655. Ni, JOYO, 4., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33655
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33656. Ni, JOYO, 4., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33656
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33657. Ni, JOYO, 4., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33657
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33658. Ni, JOYO, 4., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33658
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0　（4）.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33659. Ni, JOYO, 4, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33659
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33660. Ni, JOYO, 4, 160K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33660
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (条件・倍率等)160K.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33661. Ni, JOYO, 4, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33661
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33662. Ni, JOYO, 4, BF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33662
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33663. Ni, JOYO, 4, BF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33663
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33664. Ni, JOYO, 4, BF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33664
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33665. Ni, JOYO, 4, BF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33665
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33666. Ni, JOYO, 4, BF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33666
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33667. Ni, JOYO, 4, BF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33667
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33668. Ni, JOYO, 4, BF, 42K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33668
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

(備考)α　　上1（-）黒18（180）.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33669. Ni, JOYO, 4, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33669
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33670. Ni, JOYO, 4., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33670
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)4.

(備考)β　　下1.5（＋）黒8（40）.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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