メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35769. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35769
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35770. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35770
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35771. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35771
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35772. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35772
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)となりのgrain.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35773. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35773
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35774. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35774
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35775. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35775
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35776. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35776
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35777. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35777
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35778. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35778
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35779. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35779
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)隣のgrain　大傾斜.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35780. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35780
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　st.1　＋0　赤1（240）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35781. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35781
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35782. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35782
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35783. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35783
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　　FC＋5　.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35784. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35784
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　　FC-5.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35785. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35785
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35786. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35786
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35787. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35787
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35788. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35788
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35789. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35789
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B　　FC＋3.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35790. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35790
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B　　FC＋3.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35791. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35791
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)B　大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35792. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35792
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A　st.2　-2.5　黒5（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35793. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35793
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35794. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35794
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35795. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35795
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35796. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35796
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35797. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35797
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35798. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35798
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35799. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35799
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35800. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35800
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　st.1　＋10　赤1（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35801. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35801
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35802. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35802
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35803. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35803
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35804. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35804
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35805. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35805
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35806. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35806
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35807. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35807
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)FC＋4　　コンタミ区別のため.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35808. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35808
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)FC-4.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35809. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35809
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2　＋11　赤7（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35810. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35810
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35811. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35811
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35812. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35812
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35813. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35813
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35814. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35814
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35815. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35815
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35816. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35816
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35817. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35817
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35818. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35818
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B　FC＋4.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ