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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37123. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37124. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37125. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, BF, 11K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37126. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, BF, 11K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37127. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)他のgrain　C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37128. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37129. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, BF, 11K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37130. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37131. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37131
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　下23（＋）黒5（280）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37132. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37132
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37133. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37133
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37134. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37134
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37135. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37135
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37136. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37136
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37137. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37137
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　下23.5赤2（180）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37138. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37138
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37139. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37139
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37140. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37140
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37141. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37141
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37142. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37142
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β’　下23（＋）赤2（180）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37143. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37143
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37144. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37144
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37145. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37145
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37146. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37146
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37147. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37147
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37148. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37148
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α’　下23.5（＋）黒5（250）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37149. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37149
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37150. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37150
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37151. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37151
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37152. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37152
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37153. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, LM., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37153
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)LM.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37156. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 21K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37156
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37157. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37157
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37158. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37158
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37159. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37159
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37160. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37160
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37161. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37161
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37162. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37162
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37163. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37163
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37164. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37164
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37165. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, ↓., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37165
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37166. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37166
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37167. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37167
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37168. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37168
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37169. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37169
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)on　GB.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37170. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37170
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)on　dislocation.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37171. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37171
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)on　dislocation.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37172. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37172
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　　ｓｔ.1　-1.50（0）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37173. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37173
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37174. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37174
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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