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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37326. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37326
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37327. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37327
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)D　s小　BF.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37328. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37328
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)E.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37329. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37329
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)F.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37330. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37330
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)G.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37331. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37331
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)H.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37332. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37332
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)I.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37333. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37333
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)A　　st.1　＋7.0黒4（60）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37334. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37334
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37335. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37335
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37336. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37336
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)D　s小　BF.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37337. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37337
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)E.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37338. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37338
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)F.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37339. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37339
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)G.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37340. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37340
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37341. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37341
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)I.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37342. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37342
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37343. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37343
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A側.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37344. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37344
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37345. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37345
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37346. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 21K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37346
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37347. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 21K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37347
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37348. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, 21K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37348
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)21K.

(備考)E側.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37349. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, 21K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37349
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)21K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37350. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37350
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

(備考)E側.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37351. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37351
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37352. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37352
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

(備考)以上st.1側.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37353. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37353
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)A　　st.2　*-0　黒9（60）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37354. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37354
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37355. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37355
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37356. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37356
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)D.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37357. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37357
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)E.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37358. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37358
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)F.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37359. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37359
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)G.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37360. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37360
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37361. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37361
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37365. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, 100., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37365
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)100.

(備考)A側.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37366. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, 100., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37366
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)100.

(備考)A側.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37367. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, 100., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37367
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)100.

(備考)A側.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37368. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, 100., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37368
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)100.

(備考)E.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37369. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, 100., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37369
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)100.

(備考)E.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No 9 1986 10/11〜10/15. 32751〜33648., 1986 10/11〜10/15. [表紙記載より.], [1986-10-11/1986-10-15.]

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資料番号: O- 9
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 1986 10/11〜10/15. [表紙記載より.]; [1986-10-11/1986-10-15.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No 10 1986 10/15〜12/7. 33649〜36432., 1986 10/15〜12/7. [表紙記載より.], [1986-10-15/1986-12-07.]

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資料番号: O-10
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 1986 10/15〜12/7. [表紙記載より.]; [1986-10-15/1986-12-07.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート NO 11 1986 12/7〜. 36432〜42247., 1986 12/7〜[1987(昭和62).6.8]. [表紙記載より, ノート内記載終了日付「62/6/8」より.], [1986-12-07/1987-06-08.]

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資料番号: O-11
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 1986 12/7〜[1987(昭和62).6.8]. [表紙記載より, ノート内記載終了日付「62/6/8」より.]; [1986-12-07/1987-06-08.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート NO.4 1986.2.13〜6.18 北大 桐谷研, 1986.2.13〜6.18. [表紙記載より.], [1986-02-13/1986-06-18.]

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資料番号: O- 4
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 1986.2.13〜6.18. [表紙記載より.]; [1986-02-13/1986-06-18.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No.5 1986.6.19〜7.30. O-23997 - 27918., 1986.6.19〜7.30. [表紙記載より.], [1986-06-19/1986-07-30.]

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資料番号: O- 5
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 1986.6.19〜7.30. [表紙記載より.]; [1986-06-19/1986-07-30.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No.6 1986.7.31〜8.3 8/6 北大 桐谷研. O-27919〜29109., 1986.7.31〜8.3 8/6. [表紙記載より.], [1986-07-31/1986-08-03.]

 アイテム
資料番号: O- 6
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 1986.7.31〜8.3 8/6. [表紙記載より.]; [1986-07-31/1986-08-03.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No.7 1986.8/3〜8/5 北大 桐谷研. O-29110〜29959., 1986.8/3〜8/5. [表紙記載より.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O- 7
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 1986.8/3〜8/5. [表紙記載より.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No.8 1986 8/5〜10/11 北大 桐谷研. O-29960〜32750., 1986 8/5〜10/11. [表紙記載より.], [1986-08-05/1986-10-11.]

 アイテム
資料番号: O- 8
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 1986 8/5〜10/11. [表紙記載より.]; [1986-08-05/1986-10-11.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997.

 コレクション
資料番号: KURNS MIXED 2018/3
要約 高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として幅広く行われている。本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行いその後に電子顕微鏡観察した結果を記録した写真のネガフィルムで，さまざまな形態の照射欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，現在研究用等原子炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件変更により実施できなくなった実験条件で得られた，希少な照射材料の撮影結果を含む。Material irradiation experiments using high-energy particles are conducted as a means of introducing defects into the material and as a property test of the material used under irradiation. This collection consists of negative films that...
日付: 1985.1.10 〜 1997.7.26. [昭和60年〜平成9年.]; [1985-01-10/1997-07-26.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive

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