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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28076. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28076
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s 中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28077. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28077
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)110poleそば. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28078. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28078
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28079. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28079
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 中～.

(備考)この試料おわり.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28080. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28080
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28081. Cu, RTNS-II, 290℃, W, BF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28081
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s 中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28082. Cu, RTNS-II, 290℃, W, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28082
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28083. Cu, RTNS-II, 290℃, W, DF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28083
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28084. Cu, RTNS-II, 290℃, W, BF, 11K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28084
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28085. Cu, RTNS-II, 290℃, W, BF, 11K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28085
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28086. Cu, RTNS-II, 290℃, W, DF, 11K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28086
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28087. Cu, RTNS-II, 290℃, W, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28087
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28088. Cu, RTNS-II, 290℃, W, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28088
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28089. Cu, RTNS-II, 290℃, W, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28089
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28090. Cu, RTNS-II, 290℃, W, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28090
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28091. Cu, RTNS-II, 290℃, W, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28091
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28092. SS', DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28092
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28093. SS', DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28093
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28094. SS', DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28094
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28095. SS', DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28095
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28096. SS', DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28096
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28097. SS', DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28097
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28098. SS', ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28098
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28099. SS'., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28099
範囲と内容

(照射量)SS'. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28100. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28100
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1 α＋19.5.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28101. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28101
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28102. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28102
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28103. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28103
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28104. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28104
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)4.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28105. Ni, B269, 200℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28105
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28106. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28106
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β＋26.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28107. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28107
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28108. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28108
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28109. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28109
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28110. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28110
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)4.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28111. Ni, B269, 200℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28111
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28112. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28112
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)1 γ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28113. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28113
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28114. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28114
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)3.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28115. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28115
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)4.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28116. Ni, B269, 200℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28116
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28117. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28117
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28118. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28118
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28119. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28119
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28120. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28120
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28121. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28121
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28122. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28122
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28123. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28123
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28124. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28124
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28125. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28125
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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