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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28276. Au120Cu, G576, 200℃, S., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28276
範囲と内容

(試料)Au120Cu. (試料番号)G576. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上2.5（-）　赤12.5（220）.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28277. Au120Cu, G576, 200℃, S., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28277
範囲と内容

(試料)Au120Cu. (試料番号)G576. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28278. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28278
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28279. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28279
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28280. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28280
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28281. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28281
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28282. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28282
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28283. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28283
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)ｓ更に大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28284. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28284
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28285. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28285
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)歪のためすぐ隣の視野.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28286. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28286
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)A .

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28287. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28287
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28288. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28288
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)内部.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28289. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28289
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28290. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28290
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s更に小～0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28291. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28291
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28292. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28292
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28293. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28293
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)上とは別視野.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28294. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28294
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28295. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28295
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28296. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 80K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28296
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)thinner.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28297. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 80K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28297
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)thinner.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28298. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 80K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28298
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)mid.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28299. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 80K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28299
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)mid.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28300. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 80K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28300
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)thicker.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28301. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 80K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28301
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)thicker.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28302. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28302
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)全景.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28303. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28303
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28304. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28304
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28305. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28305
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28306. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28306
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28307. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28307
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28308. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28308
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28309. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 16K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28309
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28310. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28310
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)near GB.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28311. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28311
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28312. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28312
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)GBから離れる.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28313. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28313
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)GBから離れる.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28314. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28314
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)同Grain.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28315. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28315
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小(conventional).

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28316. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28316
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28317. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28317
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28318. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28318
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28319. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28319
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28320. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28320
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28321. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28321
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28322. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28322
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28323. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28323
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)絞りぬくときに場所動き位置が分からなくなる。.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28324. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28324
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28325. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28325
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)GB.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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