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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28727. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28727
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)完.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28728. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28728
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28729. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28729
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28730. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28730
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28731. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28731
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28732. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28732
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28733. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28733
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28734. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28734
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28735. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28735
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28736. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28736
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28737. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28737
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28738. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28738
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28739. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28739
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28740. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28740
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28741. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28741
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28742. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28742
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)GB含む.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28743. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28743
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)GB含む.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28744. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28744
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28745. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28745
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28746. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28746
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28747. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28747
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)over 5 steps.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28748. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28748
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)under 5steps.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28749. Ni, B174, 450℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28749
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28750. Ni, B174, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28750
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)?.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28751. Ni, B174, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28751
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28752. Ni, B174, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28752
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28753. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28753
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28753. Ni, B174, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28753
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28754. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28754
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28755. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28755
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28756. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28756
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)over 5 steps.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28757. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28757
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)under 5 steps.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28758. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28758
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28762. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28762
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28763. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28763
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)over med小 1step.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28764. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28764
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)under med小 1step.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28765. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28765
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28766. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28766
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)over.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28767. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28767
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)under.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28768. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28768
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28769. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28769
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28770. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28770
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28771. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28771
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28772. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28772
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28773. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28773
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28774. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28774
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28775. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28775
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28776. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28776
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28777. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28777
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28778. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28778
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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