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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29630. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29630
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29631. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29631
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29632. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29632
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29633. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29633
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29634. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 31K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29634
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)C.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29635. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29635
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29636. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29636
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29637. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29637
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)A’.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29638. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29638
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)B　場所違う.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29639. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29639
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29640. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29640
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29641. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29641
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)B　29638の撮り直し.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29642. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29642
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29643. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29643
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29644. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29644
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29645. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29645
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A'　　st.2　＋1.0　赤2（300）.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29646. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29646
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29647. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29647
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29648. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29648
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29649. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29649
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29650. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29650
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sすこし大へ.

(備考)A'.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29651. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29651
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29652. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29652
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s少し大.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29653. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29653
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29654. Cu-0.3Ge, G692, RTNS-II, 200℃, M, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29654
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G692. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)全.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29655. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29655
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　　st.1　-15　黒10（200）.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29656. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29656
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29657. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29657
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)全.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29658. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29658
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)全.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29659. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29659
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29660. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29660
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29661. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29661
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29662. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29662
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29663. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29663
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29664. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29664
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29665. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29665
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29666. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29666
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A　　st.2　-17.5黒4（200）.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29667. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29667
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29668. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29668
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29669. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29669
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29670. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29670
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29671. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29671
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中-大.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29672. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29672
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29673. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29673
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)全.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29674. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29674
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1と2の間.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29675. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29675
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29676. Cu-0.3Si, G582, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29676
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G582. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29677. Cu-2Sn, G682, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29677
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)G682. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29678. Cu-2Sn, G682, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29678
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G682. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29679. Cu-2Sn, G682, RTNS-II, 200℃, M, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29679
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G682. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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