メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32870. Ni., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32870
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)A.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32871. Ni., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32871
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)A.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32872. Ni., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32872
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32873. Ni., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32873
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32874. Ni., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32874
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32875. Ni., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32875
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)C.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32876. Ni., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32876
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)D.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32877. Ni, ED., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32877
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32878. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32878
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)酸化被膜あり、コンタミ多い. 日付元記載「10/12」.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32879. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 16K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32879
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32880. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32880
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32881. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32881
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32882. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32882
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32883. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32883
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32884. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32884
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32885. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32885
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32886. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32886
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32887. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32887
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32888. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32888
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.1　　-23　赤7（240）.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32889. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32889
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32890. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32890
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32891. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32891
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32892. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32892
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32893. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32893
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.2　-15　赤9（10）.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32894. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32894
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.2.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32895. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32895
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.2.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32896. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32896
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.2.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32897. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32897
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.2.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32898. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32898
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.2　contamination多い.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32899. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32899
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32900. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32900
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)同grain.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32901. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32901
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1と同じdiff.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32902. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32902
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32903. Cu, A865, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年]10/12.

 アイテム
資料番号: O-32903
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A865. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年]10/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32904. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32904
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

(備考)ST.1　-22　赤4（40）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32905. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32905
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32906. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32906
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32907. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32907
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32908. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32908
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32909. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32909
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32910. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32910
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.2　-26　赤10（40）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32911. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32911
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.2　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32912. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32912
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.2　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32913. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32913
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.2　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32914. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32914
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32915. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32915
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32916. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32916
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32917. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32917
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32918. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32918
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32919. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32919
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ