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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33070. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33070
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33071. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33071
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33072. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33072
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33073. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33073
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33074. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33074
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33075. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33075
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(5).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33076. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33076
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(4).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33077. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33077
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(4).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33078. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33078
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(3).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33079. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33079
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (EM/D3)EM. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)0、赤18（100）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33080. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33080
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33081. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33081
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33082. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33082
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33083. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33083
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33084. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33084
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33085. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33085
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33086. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33086
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4.5）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33087. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33087
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33088. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33088
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)下14　赤14（200）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33089. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33089
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33090. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33090
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33091. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33091
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33092. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33092
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33093. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33093
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33094. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33094
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33095. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33095
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33096. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33096
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33097. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33097
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33098. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33098
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33099. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33099
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33100. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33100
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)SFT?.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33101. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33101
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33102. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33102
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33103. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33103
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33104. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33104
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)コンタミ付着しつつある.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33105. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33105
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33106. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33106
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)near111 pole.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33107. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33107
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33108. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33108
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33109. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33109
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)同じgrain.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33110. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33110
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33111. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33111
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33112. Cu, A874, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33112
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A874. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33113. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33113
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33114. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33114
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33115. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33115
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33116. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33116
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33117. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33117
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33118. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33118
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33119. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33119
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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