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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33170. Au, A459, RTNS-II, 450℃, W., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33170
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A459. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4.5).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33171. Au, A459, RTNS-II, 450℃, W, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33171
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A459. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33172. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33172
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33173. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33173
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　上3.5（-）赤3（0）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33174. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33174
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33175. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33175
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33176. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33176
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33177. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33177
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33178. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33178
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33179. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33179
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33180. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33180
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　上8.5（-）赤12（60）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33181. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33181
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33182. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33182
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33183. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33183
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33184. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33184
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33185. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33185
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33186. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33186
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33187. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33187
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33188. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33188
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　　　　↖ｇ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33189. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33189
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33190. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33190
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33191. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33191
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)上5（-）赤12（60）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33192. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33192
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33193. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33193
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33194. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33194
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0　(2).

(備考)　　　↘ｇ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33195. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33195
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0　(3).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33196. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33196
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33197. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33197
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-7.5　赤0～＋（120）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33198. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33198
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33199. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33199
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33200. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33200
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33201. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33201
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33202. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33202
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33203. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33203
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33204. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33204
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33205. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　0、　黒0～3＋（300）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33206. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33206
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33207. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33207
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33208. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33208
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33209. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33209
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33210. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33210
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33211. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33211
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33212. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33212
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33213. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33213
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33214. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33214
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33215. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33215
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　-8　赤0～3（40）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33216. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33216
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33217. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33217
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33218. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33218
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33219. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33219
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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