共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度
主題
件名：ソース: Ku Peek Class
10147 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51655. Mo, RTNS-II, RT, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51655
範囲と内容
(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51656. Mo, RTNS-II, RT, DF, 210K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51656
範囲と内容
(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51657. Mo, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51657
範囲と内容
(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51658. Mo, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51658
範囲と内容
(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51659. Mo, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51659
範囲と内容
(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51660. Mo, RTNS-II, RT, BF, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51660
範囲と内容
(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51661. Mo, 350℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51661
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51662. Mo, 350℃, ED, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51662
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51663. Mo, 350℃, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51663
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51664. Mo, 350℃, ED., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51664
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51665. Mo, 350℃, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51665
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51666. Mo, 350℃, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51666
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51667. Mo, 350℃, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51667
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51668. Mo, 350℃, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51668
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51669. Mo, 350℃, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51669
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51670. Mo, 350℃, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51670
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51671. Mo, 350℃, ED., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51671
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51672. Mo, 350℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51672
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51673. Mo, 350℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51673
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51674. Mo, 350℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51674
範囲と内容
(試料)Mo. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51675. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51675
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51676. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51676
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51677. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51677
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51678. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51678
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51679. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51679
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51680. 150℃, ED., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51680
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51681. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51681
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51682. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51682
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51683. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51683
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51684. 150℃, ED., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51684
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51685. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51685
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51686. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51686
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51687. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51687
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51688. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51688
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51689. 150℃, DF., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51689
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51690. 150℃, ED., [1988年3月20日以降.]
アイテム
資料番号: O-51690
範囲と内容
(照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.
日付:
[1988年3月20日以降.]
[記録ノート, Lシリーズ] 大洗200CX EMノート L-2 北大. 7784～., [1987(昭和62).7.20〜24.] [ノート内記載「62/7/20」,「1987.7.24夕.」より.], [1987-07-20/1987-07-24.]
アイテム
資料番号: L- 2
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[1987(昭和62).7.20〜24.] [ノート内記載「62/7/20」,「1987.7.24夕.」より.]; [1987-07-20/1987-07-24.]
[記録ノート, Lシリーズ] 大洗200CX EMノート L-3 1987/7/26〜. 9633～11235., [1987/7/26]〜64[ママ] 11/17. [表紙記載, ノート内記載終了日付より(「64」は昭和64＝平成元も, 連続する次のノート日付から誤記).], [1987-07-26/1987-11-17.]
アイテム
資料番号: L- 3
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[1987/7/26]〜64[ママ] 11/17. [表紙記載, ノート内記載終了日付より(「64」は昭和64＝平成元も, 連続する次のノート日付から誤記).]; [1987-07-26/1987-11-17.]
[記録ノート, Lシリーズ] 大洗200CX EMノート L1 北大. 6735～7783., [-.], [1987-04/1987-07.]
アイテム
資料番号: L- 1
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[-.]; [1987-04/1987-07.]
[記録ノート, Lシリーズ] 大洗200CX ノート L-4 1987/11/ . 11236～14161., 1987/11/ [〜1988/3/18]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「88/3/18」より.], [1987-11/1988-03-18.]
アイテム
資料番号: L- 4
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1987/11/ [〜1988/3/18]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「88/3/18」より.]; [1987-11/1988-03-18.]
[記録ノート, Lシリーズ] 大洗EM L-5 1988.3.21〜. L-14162～16582., 1988.3.21〜 [8.1]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「1988.8.1」より.], [1988-03-21/1988-08-01.]
アイテム
資料番号: L- 5
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1988.3.21〜 [8.1]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「1988.8.1」より.]; [1988-03-21/1988-08-01.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート NO 11 1986 12/7〜. 36432〜42247., 1986 12/7〜[1987(昭和62).6.8]. [表紙記載より, ノート内記載終了日付「62/6/8」より.], [1986-12-07/1987-06-08.]
アイテム
資料番号: O-11
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1986 12/7〜[1987(昭和62).6.8]. [表紙記載より, ノート内記載終了日付「62/6/8」より.]; [1986-12-07/1987-06-08.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No.12. 42249〜43289., [1987(昭和62).6.11.] [ノート内記載「62/6/11」より.]
アイテム
資料番号: O-12
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[1987(昭和62).6.11.] [ノート内記載「62/6/11」より.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX No 14. 45636〜47209., [1987(昭和62).10.19〜.] [ノート内記載「62年10月19日より」より.]
アイテム
資料番号: O-14
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[1987(昭和62).10.19〜.] [ノート内記載「62年10月19日より」より.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX No 15 1988/1/25〜. 48014〜., 1988/1/25〜[3/20]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「'88.3.20」より.], [1988-01-25/1988-03-20.]
アイテム
資料番号: O-15
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1988/1/25〜[3/20]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「'88.3.20」より.]; [1988-01-25/1988-03-20.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX No.13. 43316〜., [1987(昭和62).7.20〜7.25.] [ノート内記載「62/7/20」, 「'62.7.25」より.], [1987-07-20/1987-07-25.]
アイテム
資料番号: O-13
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[1987(昭和62).7.20〜7.25.] [ノート内記載「62/7/20」, 「'62.7.25」より.]; [1987-07-20/1987-07-25.]
高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997.
コレクション
資料番号: KURNS MIXED 2018/3
要約
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として幅広く行われている。本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行いその後に電子顕微鏡観察した結果を記録した写真のネガフィルムで，さまざまな形態の照射欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，現在研究用等原子炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件変更により実施できなくなった実験条件で得られた，希少な照射材料の撮影結果を含む。Material irradiation experiments using high-energy particles are conducted as a means of introducing defects into the material and as a property test of the material used under irradiation. This collection consists of negative films that...
日付:
1985.1.10 〜 1997.7.26. [昭和60年〜平成9年.]; [1985-01-10/1997-07-26.]