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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

10147 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13415. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13415
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13416. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13416
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13417. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13417
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13418. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', ED., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13418
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13419. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13419
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13420. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13420
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13421. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13421
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13422. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13422
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13423. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13423
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13424. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13424
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13425. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13425
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13426. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13426
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13427. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', ED., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13427
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13428. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13428
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ステレオは無理.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13429. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13429
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13430. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13430
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13431. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13431
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13432. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13432
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13433. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13433
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13434. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13434
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13435. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13435
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13436. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13436
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13437. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13437
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13438. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13438
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13439. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13439
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13440. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13440
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13441. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13441
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13442. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13442
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13443. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13443
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13444. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13444
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13445. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13445
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13446. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13446
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13447. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13447
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13448. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13448
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13449. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13449
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13450. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13450
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13451. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13451
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13452. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13452
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13453. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13453
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13454. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13454
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13455. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13455
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13456. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13456
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13457. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13457
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (反射ベクトルg)s＝0.

(備考)析出無し.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13458. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13458
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13459. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13459
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13460. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13460
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13461. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13461
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13462. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13462
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13463. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13463
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13464. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13464
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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