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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

10147 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13565. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13565
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13566. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13566
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13567. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13567
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13568. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13568
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13569. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13569
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13570. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13570
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13571. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13571
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13572. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13572
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13573. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13573
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13574. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13574
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13575. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13575
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13576. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13576
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13577. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13577
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13578. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13578
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13579. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13579
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13580. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13580
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13581. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13581
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13582. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13582
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13583. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13583
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13584. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13584
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13585. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13585
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13586. Cu-0.05Si, G338, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13586
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G338. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13587. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13587
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13588. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13588
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13589. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13589
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13590. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13590
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13591. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13591
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13592. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13592
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13593. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13593
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13594. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13594
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13595. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13595
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13596. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13596
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13597. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13597
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13598. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13598
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13599. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13599
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13600. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13600
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13601. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13601
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13602. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13602
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13603. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13603
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13604. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13604
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13605. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13605
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13606. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13606
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13607. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13607
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13608. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13608
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13609. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13609
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13610. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13610
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13611. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13611
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13612. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13612
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13613. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13613
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13614. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13614
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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