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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

10147 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13615. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13615
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13616. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13616
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13617. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13617
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13618. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13618
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13619. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13619
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13620. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13620
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13621. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13621
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13622. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13622
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13623. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13623
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13624. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13624
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13625. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13625
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13626. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13626
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13627. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13627
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13628. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13628
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13629. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13629
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13630. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13630
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13631. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13631
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13632. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13632
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13633. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13633
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13634. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13634
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13635. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13635
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13636. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13636
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13637. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13637
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13638. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13638
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13639. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13639
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13640. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13640
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13641. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13641
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13642. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13642
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13643. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13643
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13644. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13644
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13645. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13645
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13646. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13646
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13647. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13647
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13648. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13648
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13649. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13649
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13650. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13650
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13651. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13651
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13652. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13652
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13653. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13653
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13654. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13654
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13655. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13655
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13656. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13656
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13657. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13657
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13658. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13658
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13659. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13659
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13660. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13660
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13661. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13661
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13662. Ni-0.3Si(Geの可能性あり), A714, RTNS-II, 290℃, WW., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13662
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si(Geの可能性あり). (EM/D3)D3. (試料番号)A714. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13663. Ni-0.3Si(Geの可能性あり), A714, RTNS-II, 290℃, WW., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13663
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si(Geの可能性あり). (EM/D3)D3. (試料番号)A714. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13664. Ni-0.3Si(Geの可能性あり), A714, RTNS-II, 290℃, WW., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13664
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si(Geの可能性あり). (EM/D3)D3. (試料番号)A714. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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