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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

10147 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13665. Ni-0.3Si(Geの可能性あり), A714, RTNS-II, 290℃, WW., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13665
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si(Geの可能性あり). (EM/D3)D3. (試料番号)A714. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13666. Ni-0.3Si(Geの可能性あり), A714, RTNS-II, 290℃, WW., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13666
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si(Geの可能性あり). (EM/D3)D3. (試料番号)A714. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13667. Ni-0.3Si(Geの可能性あり), A714, RTNS-II, 290℃, WW., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13667
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si(Geの可能性あり). (EM/D3)D3. (試料番号)A714. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13668. Ni-0.3Si(Geの可能性あり), A714, RTNS-II, 290℃, WW., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13668
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si(Geの可能性あり). (EM/D3)D3. (試料番号)A714. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13669. Ni-0.3Cu, A732, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13669
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A732. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13670. Ni-0.3Cu, A732, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13670
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A732. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13671. Ni-0.3Cu, A732, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13671
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A732. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13672. Ni-0.3Cu, A732, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13672
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A732. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13673. Ni-0.3Cu, A732, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13673
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A732. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13674. Ni-0.3Cu, A732, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13674
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A732. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13675. Ni-0.3Cu, A732, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13675
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A732. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13676. Ni-0.3Cu, A732, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13676
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A732. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13677. Ni-0.3Cu, A732, RTNS-II, 290℃, WW, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13677
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A732. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13680. Ni-0.3Ge(Siの可能性あり), RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13680
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge(Siの可能性あり). (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)特にdislocaton回りのループなし。.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13681. Ni-0.3Ge(Siの可能性あり), RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13681
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge(Siの可能性あり). (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13682. Ni-0.3Ge(Siの可能性あり), RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13682
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge(Siの可能性あり). (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13683. Ni-0.3Sn, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13683
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13684. Ni-0.3Sn, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13684
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13685. Ni-0.3Sn, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13685
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13686. Ni-0.3Sn, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13686
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14012. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14012
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14013. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14013
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14014. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14014
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14015. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14015
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14016. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14016
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14017. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14017
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14018. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14018
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14019. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14019
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14020. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14020
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14021. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14021
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14022. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14022
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14023. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14023
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14024. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14024
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14025. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

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資料番号: L-14025
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14026. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14026
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14027. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14027
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14028. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14028
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14029. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14029
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14030. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 50K?., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14030
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K?. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚い.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14031. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14031
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚い.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14032. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14032
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)厚い.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14033. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14033
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)厚い.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14034. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14034
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)厚い.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14035. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14035
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14036. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14036
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14037. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14037
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14038. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14038
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14039. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14039
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14040. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14040
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14041. Cu-2Ni, G286, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [19]88/3/18.

 アイテム
資料番号: L-14041
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]88/3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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