メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

10147 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14193. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14193
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↑ ほぼ同じ厚さ勾配.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14194. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14194
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↑.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14195. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14195
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)始点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14196. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14196
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A st.1　以下16まで同grain.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14197. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14197
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14198. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14198
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14199. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14199
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14200. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14200
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14201. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14201
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14202. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14202
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14203. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14203
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14204. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14204
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14205. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14205
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14206. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14206
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14207. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14207
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14208. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14208
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14209. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14209
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)A st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14210. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14210
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)A st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14211. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14211
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14212. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14212
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14213. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14213
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14214. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14214
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14215. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14215
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14216. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14216
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)以上　同grain （stereoも」.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14217. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14217
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別grain.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14218. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14218
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14219. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14219
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14220. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14220
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14221. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14221
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14222. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14222
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14223. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14223
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14224. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14224
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14225. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14225
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14226. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 59K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14226
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)全体に厚い。薄い部分を見つけたが歪ん.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14227. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14227
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)でいる。場所によりｓ変化（厚さも).

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14228. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14228
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14229. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14229
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14230. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14230
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14231. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14231
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14232. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14232
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14233. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14233
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14234. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14234
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14235. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14235
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14236. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14236
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14237. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14237
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14238. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14238
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14239. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14239
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14240. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14240
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14241. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14241
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14242. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14242
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ