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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5428 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14848. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14848
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)三つはずし. 日付元記載「1988. 5. 30」.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14849. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14849
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　　三つはずし.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14850. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14850
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14851. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14851
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14852. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14852
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14853. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14853
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14854. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14854
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14855. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, ED, 55cm., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14855
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14856. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14856
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W.

(備考)ボツ.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14857. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14857
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14858. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14858
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14859. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14859
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14860. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14860
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14861. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, ED, 55cm., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14861
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14862. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14862
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さフリンジよく出ない.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14863. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14863
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)以下別Grain α.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14864. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14864
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14865. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14865
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14866. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14866
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14867. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, ED, 55cm., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14867
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14868. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14868
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14869. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14869
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14870. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14870
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14871. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14871
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14872. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14872
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14873. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14873
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14874. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, ED, 55cm., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14874
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14875. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14875
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14876. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14876
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14877. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14877
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14878. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14878
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14879. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14879
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14880. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14880
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14881. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14881
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14882. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14882
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14883. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-14883
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14884. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-14884
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14885. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14885
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14886. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14886
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14887. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14887
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14888. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14888
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14889. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14889
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14890. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14890
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14891. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14891
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14892. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14892
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14893. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14893
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14894. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14894
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14895. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14895
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14896. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14896
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14897. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14897
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Dummy β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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