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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5428 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15348. BO2, RTNS-II, RT, M, DF., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15348
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)d.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15349. BO2, RTNS-II, RT, M, DF., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15349
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)d.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15350. BO2, RTNS-II, RT, M, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15350
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15351. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15351
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「88/6/5」.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15352. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15352
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15353. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15353
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)以下１つ方向へ向かって進んでいる。.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15354. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15354
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)↓.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15355. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15355
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)↓.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15356. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15356
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15357. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15357
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15358. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15358
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)↑　ここまで.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15359. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15359
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣　on GB.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15360. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15360
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15361. Cu, RTNS-II, 150℃, W, DF, 200K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15361
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)大きく傾けて110方向に近い所から観察.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15362. Cu, RTNS-II, 150℃, W, DF, 200K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15362
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15363. Cu, RTNS-II, 150℃, W, DF, 200K., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15363
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15364. Cu, RTNS-II, 150℃, W, DF., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15364
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15365. Cu, RTNS-II, 150℃, W, ED., [19]88/6/5.

 アイテム
資料番号: L-15365
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]88/6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16424. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16424
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)たて型　練習. 日付元記載「1988. 8. 1」.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16425. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16425
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16426. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16426
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16427. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16427
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16428. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16428
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16429. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16429
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16430. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, ED, 55cm., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16430
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16431. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16431
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16432. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16432
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16433. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16433
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16434. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16434
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16435. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16435
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16436. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, ED, 55cm., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16436
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16437. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16437
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16438. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16438
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16439. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16439
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16440. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

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資料番号: L-16440
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16441. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16441
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16442. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

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資料番号: L-16442
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16443. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16443
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16444. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

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資料番号: L-16444
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16445. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16445
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16446. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16446
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16447. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16447
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16448. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16448
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16449. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16449
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16450. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16450
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16451. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16451
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16452. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16452
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16453. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16453
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16454. Ni, A959, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A959. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)試料研磨不良.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16455. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16455
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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