メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5428 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16506. Ni, A810, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16506
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A810. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16507. Ni, A810, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16507
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A810. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16508. Ni, A810, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16508
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A810. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16509. Ni, A810, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16509
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A810. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16510. Ni, A810, RTNS-IIFin, RT, M, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16510
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A810. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16511. Ni, A810, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16511
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A810. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16512. Ni, A810, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16512
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A810. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)エッジ部に注目（だいぶエッジ落ちている）.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16513. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16513
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16514. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16514
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16515. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16515
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16516. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16516
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16517. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16517
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3つはずし.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16518. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16518
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16519. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16519
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16520. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16520
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16521. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 200K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16521
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16522. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 200K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16522
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16523. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 200K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16523
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16524. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16524
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16525. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16525
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16526. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16526
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)26.27.28は一組.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16527. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16527
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16528. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16528
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16529. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16529
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16530. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 30K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16530
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16531. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16531
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16532. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16532
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)2つはずし.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16533. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16533
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16534. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16534
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16535. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16535
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16536. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16536
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16537. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16537
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16538. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16538
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16539. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16539
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16540. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16540
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16541. Ni, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16541
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16542. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16542
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)以下51まで3つはずし.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16543. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16543
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16544. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16544
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16545. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16545
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16546. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16546
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16547. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16547
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16548. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16548
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16549. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16549
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16550. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16550
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16551. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16551
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16552. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16552
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16553. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16553
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16554. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16554
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16555. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16555
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ