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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5428 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16556. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16556
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16557. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16557
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16558. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16558
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16559. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16559
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16560. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16560
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16561. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16561
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16562. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16562
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16563. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16563
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16564. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16564
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16565. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16565
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16566. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16566
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16567. Ni, A803, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16567
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A803. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16568. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16568
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16569. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16569
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16570. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16570
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16571. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16571
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16572. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16572
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16573. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16573
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16574. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16574
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16575. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16575
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16576. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16576
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16577. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16577
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16578. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16578
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16579. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16579
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16580. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16580
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16581. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16581
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16582. Ni, A812, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16582
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A812. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16583. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 4.

 アイテム
資料番号: L-16583
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「1988. 8. 4」.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16584. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 4.

 アイテム
資料番号: L-16584
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16585. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 4.

 アイテム
資料番号: L-16585
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3つはずし.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16586. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 4.

 アイテム
資料番号: L-16586
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16587. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 4.

 アイテム
資料番号: L-16587
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16588. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 4.

 アイテム
資料番号: L-16588
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16589. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 4.

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資料番号: L-16589
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16590. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 4.

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資料番号: L-16590
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16591. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 4.

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資料番号: L-16591
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16592. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, ED., 1988. 8. 4.

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資料番号: L-16592
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16593. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 4.

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資料番号: L-16593
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16594. Ni, A802, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 4.

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資料番号: L-16594
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16595. Ni, A800, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-16595
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A800. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16596. Ni, A800, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16596
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A800. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16597. Ni, A800, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16597
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A800. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16598. Ni, A800, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16598
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A800. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16599. Ni, A800, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16599
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A800. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3つはずし.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16600. Ni, A800, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-16600
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A800. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16601. Ni, A800, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16601
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A800. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16602. Ni, A800, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16602
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A800. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16603. Ni, A800, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16603
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A800. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16604. Ni, A800, RTNS-II, 150℃, M, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16604
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A800. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16605. Ni, A800, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16605
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A800. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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