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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5428 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38029. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38029
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)SFTのみらしい.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38030. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38030
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38031. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38031
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38032. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38032
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別の小さな穴　厚い.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38033. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38033
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38034. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38034
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38035. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38035
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38036. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38036
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38037. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38037
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38038. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38038
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38039. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38039
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38040. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38040
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38041. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38041
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38042. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38042
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38043. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38043
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38044. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38044
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38045. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 40K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38045
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)voidなし.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38046. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38046
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38047. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38047
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38048. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38048
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38049. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38049
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38050. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38050
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38051. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38051
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38052. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38052
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38053. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38053
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38054. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38054
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38055. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38055
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38056. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38056
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38057. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38057
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38058. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38058
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38059. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38059
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38060. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38060
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)loop.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38061. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38061
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)loop.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38062. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38062
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)loop.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38063. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38063
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上53まで同じGrain.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38064. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38064
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)-100.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38065. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38065
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38066. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38066
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38067. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38067
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38068. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-38068
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)no　void.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38069. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-38069
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部　disl.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38070. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38070
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38071. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38071
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38072. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38072
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)GB.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38073. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38073
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)loops？.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38074. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38074
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38075. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38075
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38076. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38076
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38077. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38077
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38078. Cu-2Ge, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38078
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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