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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5428 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38714. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38714
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38715. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38715
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38716. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38716
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38717. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38717
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38718. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38718
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38719. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38719
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38720. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38720
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38721. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38721
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38722. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38722
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38723. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38723
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)他のGrain.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38724. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38724
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38725. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38725
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38726. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38726
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38727. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38727
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38728. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38728
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38729. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38729
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 (3).

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38730. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38730
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38731. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38731
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38732. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38732
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38733. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38733
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38734. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38734
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38735. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38735
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)小Grainのdiffを使ったdark.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38736. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38736
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)小Grainのdiffを使ったdark.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38737. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38737
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)matrixのスポットのDF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38738. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38738
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)matrixのスポットのDF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38739. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38739
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)matrixのスポットのDF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38740. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38740
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38741. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38741
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38742. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38742
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38743. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38743
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38744. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38744
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38745. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38745
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38746. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38746
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38747. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, ED, 55cm., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38747
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm. (反射ベクトルg)220.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38748. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38748
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38749. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38749
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＝順方向2.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38750. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38750
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38751. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38751
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38752. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38752
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38753. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38753
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38754. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, BF., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38754
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38755. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38755
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38756. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38756
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38757. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38757
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38758. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38758
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38759. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38759
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38760. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, BF, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38760
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38761. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, BF, 30K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38761
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38762. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, BF, 20K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38762
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38763. SUS, K212, RTNS-IIFin, RT, SS, ED, 55cm., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38763
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)K212. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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