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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5428 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39018. SUS, 　J396, RTNS-II, 550℃, S, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39018
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39019. SUS, 　J396, RTNS-II, 550℃, S, ED, 55cm., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39019
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39020. SUS, 　J396, RTNS-II, 550℃, S, DF., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39020
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39021. SUS, 　J396, RTNS-II, 550℃, S, ED, 55cm., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39021
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39022. SUS, 　J396, RTNS-II, 550℃, S, BF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39022
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)以下　一組　何もいない。転位を一本いれてとる.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39023. SUS, 　J396, RTNS-II, 550℃, S, BF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39023
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)析出あり.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39024. SUS, 　J396, RTNS-II, 550℃, S, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39024
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39025. SUS, 　J396, RTNS-II, 550℃, S, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39025
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39026. SUS, 　J396, RTNS-II, 550℃, S, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39026
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39027. SUS, 　J396, RTNS-II, 550℃, S, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39027
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39028. SUS, 　J396, RTNS-II, 550℃, S, ED, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39028
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39029. SUS, 　B777, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39029
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39030. SUS, 　B777, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39030
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39031. SUS, 　B777, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39031
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39032. SUS, 　B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39032
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39033. SUS, 　B777, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39033
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39034. SUS, 　B777, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39034
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39035. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39035
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)極微細なdotsがまばらにいる。.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39036. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39036
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)DF s＞0では殆ど見えない.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39037. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39037
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)s＞＞0では良く見える.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39038. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39038
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)s＞＞＞0では極めて小さく見える.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39039. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39039
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39040. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, ED, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39040
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)50K.

(備考)以上38-40は一組　1.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39041. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39041
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39042. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, ED., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39042
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上41-42は一組　2.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39043. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

 アイテム
資料番号: L-39043
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)かぶったために使用不可.

日付: [1988年12月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39386. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39386
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR(01) コントロール. 日付元記載「89 1/28」.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39387. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39387
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39388. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39388
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39389. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39389
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39390. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39390
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39391. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39391
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39392. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39392
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39393. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39393
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39394. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39394
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≦0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39395. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39395
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39396. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39396
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39397. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39397
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39398. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39398
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39399. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39399
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39400. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39400
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39401. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39401
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39402. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39402
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A 1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39403. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39403
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B 1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39404. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39404
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A 2.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39405. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39405
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B 2.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39406. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39406
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39407. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 330k., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39407
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)330k. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39408. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39408
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)1.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39409. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 330k., [19]89 1/28.

 アイテム
資料番号: L-39409
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330k. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)2.

日付: [19]89 1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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