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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5428 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52334. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52334
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52335. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52335
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52336. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52336
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52337. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52337
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52338. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52338
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52339. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52339
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52340. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52340
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52341. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52341
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52342. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52342
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52343. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52343
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52344. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52344
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52345. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52345
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52346. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52346
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52347. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52347
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52348. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52348
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52349. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52349
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52350. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52350
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52351. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, DF, 31K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52351
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52352. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, BF, 0.16., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52352
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)0.16.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52353. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52353
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52354. ムライト, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52354
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52355. ムライト, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52355
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52356. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52356
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52357. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52357
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52358. ムライト, DF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52358
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52359. ムライト, DF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52359
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52360. ムライト, DF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52360
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52361. ムライト, DF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52361
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52362. ムライト, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52362
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52363. ムライト, BF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52363
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52364. ムライト, BF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52364
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52365. ムライト, BF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52365
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52366. ムライト, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52366
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52367. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52367
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52368. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52368
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52369. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52369
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52370. ムライト, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52370
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52371. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52371
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52372. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52372
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52373. ムライト, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52373
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52374. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52374
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52375. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52375
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52376. ムライト, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52376
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52377. ムライト, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52377
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52378. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52378
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52379. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52379
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52380. ムライト, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52380
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52381. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52381
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52382. ムライト., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52382
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52383. ムライト, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52383
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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