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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61207. Fe北大, JMTR 　, 350℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61207
範囲と内容

(試料)Fe北大. (照射条件)JMTR 　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61208. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61208
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61209. Ni, JMTR controlled　, 350℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61209
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61210. Ni, JMTR controlled　, 350℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61210
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61211. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61211
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61212. Ni, JMTR controlled　, 350℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61212
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61213. Ni, JMTR controlled　, 350℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61213
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61214. Ni, JMTR controlled　, 350℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61214
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61215. Ni, JMTR controlled　, 350℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61215
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61216. Ni, JMTR controlled　, 350℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61216
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61217. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61217
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61218. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61218
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61219. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61219
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61220. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61220
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61221. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61221
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61222. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61222
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61223. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61223
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61224. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61224
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61225. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61225
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61226. Ni, JMTR controlled　, 350℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61226
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61227. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61227
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (反射ベクトルg)s＝0. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61228. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61228
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)s＝0. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61229. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61229
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)s＝0. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61230. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61230
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61231. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61231
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61232. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61232
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61233. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61233
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61234. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61234
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61235. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61235
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61236. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61236
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)同じ場所.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61237. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61238. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61239. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 53K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)53K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61240. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 53K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)53K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61241. Ni, JMTR controlled　, 350℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61242. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61242
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61243. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61243
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61244. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61244
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61245. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61245
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61246. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-61246
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61247. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61247
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61248. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61248
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61249. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61249
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61250. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61250
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61251. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF, 8K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61251
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61252. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61252
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61253. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF　　, 80K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61253
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61254. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61254
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61255. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61255
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61256. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61256
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)Nature判定　-12黒6（0）A　α.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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