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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61257. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61257
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)B　α.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61258. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61258
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61259. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61259
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　＋2赤0-3（240）.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61260. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61260
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　β.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61261. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61261
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61262. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61262
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　β　＋ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61263. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61263
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β　＋ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61264. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61264
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61265. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61265
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)A　γ-ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61266. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61266
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)B　γ-ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61267. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61267
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61268. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61268
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61269. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61269
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)　-ｇ　B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61270. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61270
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)　＋g　B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61271. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61271
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃.

(備考)X.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61272. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61272
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃.

(備考)X.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61273. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61273
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61274. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61274
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61275. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61275
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61276. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61276
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61277. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61277
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61278. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61278
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61279. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61279
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61280. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61280
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61281. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61281
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61282. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61282
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61283. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61283
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Boundary.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61284. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61284
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61285. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61285
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61286. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, DE, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61286
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61287. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, BF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61287
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61288. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61288
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61289. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, BF, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61289
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61290. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, BF, 8K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61290
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61291. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61291
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61292. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, BF, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61292
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61293. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61293
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61294. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61294
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61295. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61295
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61296. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61296
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61297. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61297
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61298. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61298
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61299. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61299
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61300. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61300
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61301. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61301
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61302. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61302
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61303. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61303
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61304. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61304
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61305. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61305
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61306. Ni-2Cu, JMTR controlled　, 400℃, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61306
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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