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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43021. SUS, K250, RTNS-II　last, 350℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43021
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K250. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43022. SUS, K250, RTNS-II　last, 350℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43022
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K250. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

(備考)」200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43023. SUS, K250, RTNS-II　last, 350℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43023
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K250. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43024. SUS, K250, RTNS-II　last, 350℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43024
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K250. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43025. SUS, K250, RTNS-II　last, 350℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43025
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K250. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43026. SUS, K250, RTNS-II　last, 350℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43026
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K250. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)」111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43027. SUS, K250, RTNS-II　last, 350℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43027
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K250. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43028. SUS, K250, RTNS-II　last, 350℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43028
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K250. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43029. SUS, K250, RTNS-II　last, 350℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43029
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K250. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43030. SUS, K250, RTNS-II　last, 350℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43030
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K250. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)」220.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43031. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43031
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43032. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43032
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43033. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43033
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43034. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43034
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43035. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43035
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43036. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43036
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43037. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43037
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43038. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43038
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43039. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43039
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43040. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43040
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43041. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43041
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43042. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43042
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43043. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43043
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43044. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43044
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43045. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43045
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43046. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43046
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43047. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43047
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43048. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43048
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43049. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43049
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)」200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43050. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43050
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43051. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43051
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43052. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43052
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43053. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43053
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43054. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43054
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43055. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43055
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43056. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43056
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

(備考)220.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43057. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43057
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43058. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43058
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43059. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43059
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43060. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43060
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43061. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43061
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43062. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43062
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

(備考)200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43063. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43063
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43064. Ni-0.3Sn, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43064
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43065. Ni-0.3Sn, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43065
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43066. Ni-0.3Sn, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43066
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43067. Ni-0.3Sn, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43067
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43068. Ni-0.3Sn, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43068
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43069. Ni-0.3Sn, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43069
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43070. Ni-0.3Sn, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43070
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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