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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43121. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43121
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)ｂ.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43122. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43122
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ｂ.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43123. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43123
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ｂ.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43124. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43124
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)ｂ　　ボイド.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43125. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43125
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ｂ　　ボイド.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43126. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, ED, 55cm., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43126
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)ｂ.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43127. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43127
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)転位.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43128. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43128
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)転位.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43129. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43129
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)転位　　ボイド.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43130. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43130
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)転位　　ボイド.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43131. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43131
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)転位　　ボイド.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43132. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43132
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)転位.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43133. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43133
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)転位.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43134. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, ED, 55cm., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43134
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43135. Ni-0.3Si, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43135
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43136. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43136
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43137. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43137
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43138. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43138
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43139. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43139
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43140. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43140
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43141. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43141
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43142. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43142
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43143. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43143
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43144. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43144
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43145. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43145
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43146. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43146
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43147. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43147
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43148. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43148
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43149. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43149
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43150. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43150
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43151. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43151
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43152. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43152
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43153. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43153
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43154. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43154
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43155. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43155
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43156. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43156
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43157. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43157
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43158. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 200K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43158
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43159. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, ED., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43159
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43160. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43160
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43161. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43161
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43162. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43162
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43163. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43163
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43164. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43164
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43165. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43165
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43166. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43166
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43167. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43167
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43168. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43168
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43169. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43169
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43170. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43170
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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