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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43171. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43171
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43172. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43172
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43173. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43173
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43174. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43174
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43175. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43175
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43176. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43176
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43177. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43177
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43178. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43178
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43179. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43179
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43180. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43180
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43181. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43181
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43182. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43182
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43183. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43183
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43184. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43184
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43185. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43185
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43186. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43186
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43187. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43187
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43188. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43188
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43189. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43189
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43190. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43190
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43191. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43191
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43192. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43192
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43193. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43193
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43194. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43194
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43195. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43195
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43196. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43196
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43197. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43197
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43198. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43198
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43199. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43199
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43200. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43200
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43201. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43201
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43202. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43202
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43203. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43203
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43204. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43204
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43205. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43205
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43206. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43206
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43207. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43207
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43208. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43208
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43209. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43209
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43210. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43210
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43211. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43211
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43212. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43212
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43213. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43213
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43214. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43214
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43215. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43215
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43216. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43216
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43217. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43217
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43218. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43218
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43219. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43219
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43220. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43220
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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