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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43221. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43221
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43222. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43222
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43223. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43223
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43224. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43224
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43225. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43225
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43226. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43226
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43227. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43227
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43228. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43228
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43229. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43229
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43230. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43230
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

(備考)」220.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43231. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43231
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43232. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43232
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43233. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43233
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

(備考)」111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43234. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43234
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43235. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43235
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43236. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43236
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43237. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43237
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43238. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43238
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43239. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43239
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43240. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43240
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43241. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43241
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43242. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43242
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43243. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43243
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43244. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43244
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43245. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43245
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43246. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43246
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43247. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43247
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43248. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43248
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43249. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43249
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43250. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43250
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43251. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43251
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43252. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43252
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43253. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43253
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43254. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43254
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)ボイドいない.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43255. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43255
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43256. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43256
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43257. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43257
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43258. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43258
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43259. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43259
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43260. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43260
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43261. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43261
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43262. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43262
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43263. Ni-0.3Ge, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43263
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43264. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43264
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43265. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43265
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43266. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43266
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43267. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43267
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43268. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43268
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43269. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43269
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43270. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43270
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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