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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43271. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43271
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43272. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43272
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43273. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43273
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43274. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43274
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43275. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43275
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43276. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43276
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43277. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43277
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43278. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, ED, 55cm., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43278
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43279. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43279
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43280. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43280
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43281. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43281
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43282. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43282
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43283. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43283
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43284. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43284
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43285. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, ED, 55cm., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43285
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43286. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43286
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43287. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43287
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43288. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43288
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43289. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43289
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43290. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43290
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43291. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43291
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43292. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, ED, 55cm., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43292
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)B.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43293. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43293
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ボイド.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43294. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43294
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43295. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43295
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43296. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43296
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43297. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43297
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43298. Ni-0.3Cu, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43298
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43299. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43299
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43300. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43300
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43301. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43301
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43302. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43302
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43303. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43303
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43304. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43304
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43305. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43305
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43306. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43306
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43307. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43307
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43308. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43308
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43309. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43309
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43310. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 50K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43310
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43311. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43311
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43312. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43312
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43313. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43313
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43314. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43314
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43315. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43315
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43316. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43316
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43317. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43317
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43318. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43318
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43319. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43319
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43320. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43320
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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